专利名称：微径迹检测分析仪（一）专利类型：外观专利
申请号：CN201430193289.4申请日：20140620公开号：CN303030576S公开日：20141210
专利附图：
申请人：航天民生科技(北京)有限公司
地址：100176 北京市大兴区北京经济技术开发区中和街20号航天工业园1号楼2层
国籍：CN
代理机构：北京市浩天知识产权代理事务所
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