专利名称：A scan latch and test method therefore发明人：Harley, Andrew申请号：EP95307568.6申请日：19951024公开号：EP0709688A1公开日：19960501
专利附图：
摘要：Array
申请人：SGS-THOMSON MICROELECTRONICS LTD.
地址：1000 Aztec West, Almondsbury Bristol BS12 4SQ GB
国籍：GB
代理机构：Driver, Virginia Rozanne
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