专利名称：一种激光跟踪仪横轴与竖轴垂直度检测方法专利类型：发明专利
发明人：周维虎,张滋黎,劳达宝,袁江,纪荣祎,董登峰,刘鑫,朱
涵,李万红
申请号：CN201410086897.4申请日：20140307公开号：CN103884279A公开日：20140625
摘要：本发明公开了一种激光跟踪仪横轴与竖轴垂直度检测方法，具体涉及激光跟踪仪横轴与竖轴夹角垂直度的检测方法，适用于激光跟踪仪横轴与竖轴垂直度的检测与误差修正。在测量过程中使跟踪仪机械竖轴保持铅垂状态，确保跟踪仪正倒镜测量过程中仪器方位保持不变，对建立激光跟踪仪横轴与竖轴垂直度的数学模型起到了重要的作用。
申请人：中国科学院光电研究院
地址：100094 北京市海淀区邓庄南路9号
国籍：CN
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