您的当前位置:首页尺寸链计算中不合格率的计算原理

尺寸链计算中不合格率的计算原理

2020-03-12 来源:小侦探旅游网
尺寸链校核时不合格品率的计算方法

前提:

- 基于正态分布的假设

- 均值与理论中值允许有1的偏差

1. 超差部分的表达 实际分布

超差的可能 IT obj

其中 IT计算=8

IT计算

不合格率就是落在以上两个红色区(-∞-ITobj/2及ITobj/2 ~+∞的概率

际上,我们允许生产中有1的不对中,因而实际可能超差的部分为:

IT == 超差的可能

 =IT计算/8

=Disp/6

 - - ITobj/2 - + ITobj/2 0

(为了方便计算,上图横坐标为的0点为在正态分布的对称轴上)

2. 风险值的计算

风险值就是落在以上两个染色区(-∞- -ITobj/2及- +ITobj/2 ~+∞的概率 设F为概率函数,风险概率为F(R),概率为P F(R) = P(X < - -ITobj/2) + P(ITobj/2 - < X)

=F((- -ITobj/2)/  )+ 1 – F((ITobj/2 -)/

=1- F(( +ITobj/2)/  ) + 1 – F((ITobj/2 -)/

F(( +ITobj/2)/  ) – F((ITobj/2 -)/

龙从林 2005-12-1

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容