专利名称：一种开口闪点测定仪的闪点检测电路专利类型：实用新型专利发明人：朱鸿鑫,陈云龙,边宝丽申请号：CN201720410415.5申请日：20170419公开号：CN206788081U公开日：20171222
摘要：本实用新型涉及一种开口闪点测定仪的闪点检测电路，用于在开口闪点测试中检测是否存在闪火，包括由电阻R1、R2、R3、R4组成的惠斯通电桥，其中所述电阻R2、R4位于所述惠斯通电桥的正极一侧，所述电阻R1、R3位于所述正极的另一侧；还包括与所述惠斯通电桥相连的闪点检测线圈A、仪表放大器U1；还包括通过低通滤波器与所述仪表放大器U1的信号输出端相连的双电压比较器U2，所述输出端用于输出所述仪表放大器U1的输出电压SG，所述双电压比较器U2连接高限比较电压VH和低限比较电压VL。采用本实用新型所述的闪点检测电路，能够有效避免工频、高频磁场、静电对闪点检测的干扰，具有避免漏检和误检的优点。
申请人：北京华科仪科技股份有限公司
地址：100076 北京市大兴区西红门镇金业大街10号
国籍：CN
代理机构：北京天悦专利代理事务所(普通合伙)
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