3职责: 3.1使用部门：负责对异常及到校验周期的计量器具送检。 3.2内校员：负责按本指导要求对异常及到校验周期的量具进行校验。 4定义: 千分尺使应用螺旋副传动原理，将回转运动变为直线运动的一种量具，是用来测量各种外尺寸。 5.作业内容: 5.1计量性能要求 5.1.1测量面的平面度，数显外径千分尺测量面的平面度应不大于0.6μm。 5.1.2数显外径千分尺的示值重复性，数显外径千分尺的示值重复性应不大于1μm。 5.1.3两测量面的平行度，数显外径千分尺锁紧装置固定与松开时，千分尺两工作面的平行度均不超过2.0μm。 5.1.4示值误差，最大允许误差±2μm 。 5.2计量器具控制：计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验。 5.2.1校准条件，环境温度﹕21℃±3℃，每小时温度变化不大于2℃，相对湿度≦70%校准前,千分尺和检定用器具等温平衡时间3h。 5.2.2校准装置 5.2.2.1校准装置名称，平行平晶、平面平晶、千分尺专用量块。 5.2.3校准方法 5.2.3.1测量面的平面度，将平面平晶的的测量面与千分尺测量面研合，调整平晶使测量面上的干涉环或干涉带的数目尽可能少。数显千分尺不应该出现1条以上相同颜色的干涉环或干涉带。 5.2.3.2数显千分尺的示值重复性，在相同测量条件下重复测量同一量块，分别读数。示值重复性以最大与最小读数的差值确定。 5.2.3.3两测量面的平行度，使用平行平晶检定时，一次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，使两测量面与平行平晶接触，转动棘轮机构，并轻轻转动平晶，使两测量面出现的干涉环活干涉带数目减至最少。分别读取两测量面上的干涉条纹数，取两测量面上的干涉条纹数目之和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。利用平行平晶组中每一块平行平晶按上述程序分别进行检定，取其中最大值作为受检千分尺的两测量面平行度测量结果。 有限公司 千分尺校验作业指导书 文件编号： WI-PZ-012 版本： A 0版 日期：2014年03月14日 页码：第2页，共2 页 5.2.4示值误差的校准，数显外径千分尺用4等专用量块检定。 5.2.5校准结果的处理和校准周期 5.2.5.1 根据校准结果，按本作业指导技术要求判断被校千分尺是否合格。 千分尺与对应受校点如表： 0-25 25-50 5.12MM,10.25MM,15.37MM,20.5MM,25MM 25.12MM,30.25MM,35.37MM,40.5MM,50MM 50-75 50,12MM,55.25MM,60.37MM,65.5MM,75MM 5.2.5.2 指示表的校准周期可根据使用情况确定﹐一般不超过一年。 7.相关文件和记录： 检测设备控制程序 QP-012 检测设备一览表 JK-FR-PZ-001/A 检测设备校验计划 JK-FR-PZ-002/A 检测设备校验报告 JK-FR-PZ-003/A 检测设备校验记录表 JK-FR-PZ-004/A 批准： 审核： 编制：
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