专利名称：存储装置及其制造方法专利类型：发明专利
发明人：野岛和弘,柴田惠美,梶野智规,塩川太郎申请号：CN201810051194.6申请日：20180118公开号：CN109509755A公开日：20190322
摘要：实施方式提供一种可通过在线检查检测构造缺陷的存储装置及其制造方法。实施方式的存储装置具备：多个构成元件，包含三维配置的存储单元；晶体管，与所述多个构成元件中的至少1个电连接；检查焊盘，经由所述晶体管与所述多个构成元件中的至少1个串联连接；及配线，与所述检查焊盘及所述晶体管的栅极电连接，可对两者供给共通电位以使所述晶体管为断开状态。
申请人：东芝存储器株式会社
地址：日本东京
国籍：JP
代理机构：北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人：刘媛媛
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