专利名称：光学透射球面检测装置专利类型：发明专利
发明人：高志山,朱日宏,陈磊,王青,何勇申请号：CN200810024553.5申请日：20080326公开号：CN101545760A公开日：20090930
摘要：本发明公开了一种用于透镜凸凹球面面形质量检验的光学透射球面检测装置，其特征是采用球面非接触干涉的方法，通过一组正透镜构成的标准透射球面器具得到曲率半径在一定范围内连续变化的标准球面波，实现对不同曲率半径凸凹球面的检测，被测件的相对孔径检测覆盖范围可达F/0.75～11，具有一具多用、不损伤被检球面表面光洁度以及测试精度高等特点，克服了现有球面样板接触测量的缺点；如果与测量长度的光栅尺、测长干涉仪等配套使用，还可以精确测量球面的曲率半径。可广泛用于光学加工行业中对各种透镜凸凹球面面形质量的检验。
申请人：南京理工大学
地址：210094 江苏省南京市孝陵卫200号
国籍：CN
代理机构：南京理工大学专利中心
代理人：张骏鸣
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容