一种双波段成像系统的红外通道杂散光分析
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第39卷第2期 2018年3月 文章编号:1002-2082(2018)02—0262-06 应用光学 V01.39 No.2 Mar.2018 Journal of Applied Optics 一种双波段成像系统的红外通道杂散光分析 王伟丽,吕 勇,李晓英,牛春晖 (ilk京信息科技大学仪器科学与光电工程学院,北京100192) 摘 要:为全面分析杂散光对红外系统成像质量的影响,设计了可见波段0.4 m~0.7 m、红外 波段3 m~5 m,视场角均为2.27。×2.27。的共孔径成像光学系统。分析了杂散光来源,分别研 究了带内与带外杂散光对其红外通道成像质量的影响。对于带内杂散光,设计了消杂光结构,采 用FRED软件模拟分析了带内杂光抑制能力,结果表明:带内杂散光得到较好抑制,其鬼像影响 可忽略不计,太阳杂散光抑制水平PST达到设定的1o 阈值量级。对于带外杂散光,主要研究 了1.064 ptm和2.6 m两个波长带外激光对红外成像系统的影响,并利用有限元仿真计算,结果 表明:系统反射镜温升达到703 K时,向外发出较强带内红外辐射,到达像面的辐射功率为0。195 mW,可对红外成像面造成强烈噪声干扰。 关键词:成像系统;红外通道;杂散光;红外辐射 中图分类号:TN976 文献标志码:A DOI:10.5768/JAO201839.0206002 Stray light analysis on infrared channel of dual_band imaging system Wang Weili,Lyu Yong,Li Xiaoying,Niu Chunhui (Schoo1 of Instrumentation Science&Opto—electronic Engineering,Beijing Information Science& Technology University,Beijing i00192,China) Abstract:To analyze the effect of stray light on infrared imaging system comprehensively,a common aperture imaging optical system was designed for both visible band(0.4 m~0.7 m) and infrared band(3肚m~5 m)while the field of view is 2.27。×2.27。.By analyzing the stray light source,the effect of in—band stray light and off-band stray light on imaging quality of infra— red channel was studied respectively.The structure of the hybrid light was designed for in—band stray light and the suppression capability was simulated and analyzed by FRED optical software. According to the result,the in—band stray light can be suppressed well,the ghost impact is neg— ligible,and the point sources transmittance(PST)of solar stray light suppression level reaches the set threshold level of 10~.For off—band stray light,the influence of 1.064 m and 2。6 m infrared laser on infrared imaging system was mainly studied by finite element method.Results show that the in—band infrared radiation can be generated strong when the temperature of system mirror rises to 703 K and the radiation power to the image plane reaches 0.069 mW,which can cause strong noise interference on the infrared imaging surface. Key words:imaging system;infrared channel;stray light;infrared radiation 收稿日期:2017-08—31;修回日期:2017-11-22 基金项目:北京市教委科研计划项目(KM201511232005;KM201311232006;SQKM201211232007) 作者简介:王伟丽(1990--),女,湖北钟祥人,硕士研究生,主要从事光电系统设计与仿真分析方面的研究工作。 E-mail:weilimolly.@sina.en 通信作者:吕勇(1971~),男,安徽芜湖人,教授,主要从事精密测量技术与光电检测技术研究。 E-mail:lvyong@bistu.edu.cn ·264· 应用光学2018,39(2) 王伟丽,等:一种双波段成像系统的红外通道杂散光分析 l O O O O O O O O O O O 9 8 7 6 5 4 3 2 1 O 图3红外通道MTF图 Fig.3 MTF curves for IR channel 2 红外通道带内杂散光分析 2.1红外通道杂散光来源 红外通道带内杂散光来源主要来自包括太阳、大 气、星体等照射光机系统,以及经镜片多次反射引起 的鬼像。当光线进入系统后,其杂散光路径主要有: 1)镜筒及遮光罩的漫反射;2)镜片表面的反射;3)镜 片侧面的反射及表面的瑕疵到达探测器的杂光。 太阳杂散光经过透镜主要路径如图4所示。 像平面 图4 太阳杂散光经过透镜主要路径 Fig.4 Main path of solar stray light passing through lens 2.2消杂光结构设计 在设计消杂光结构时,需要对外遮光筒设计 挡光环,挡光环可以阻止入射到外遮光筒在系统 内经多次反射引起的杂光,外遮光筒与锥形内壁 结合更有利于杂光消除[7-8J。挡光环的设计通过精 确建模得到。 已知太阳规避角 一30。,D 为外遮光筒内口 径,D 外遮光筒外口径,L为外遮光筒长度, 为 系统视场角(1.14。),根据图5,由几何关系可得: D2一D1-F2Lta (1) Ltan口一D1+Ltana (2) 计算得到:L一488.67 mm,D2—267.76 mlTl。 中高空成像系统对杂散光要求比较高,需要 对外遮光筒进行挡光环设计和涂上高吸收率黑涂 层 ],挡光环设计如图6所示。连接外遮光筒上顶 图5外遮光罩设计图 Fig.5 Design sketch of outer hood 点F 与锥形上内壁F ,作为第一个挡光换位置; 连接锥形下内壁主镜处A。与外遮光筒边缘处F , 与锥形上内壁相交于点F ,作为第2个挡光环位 置;连接A 、F :与外遮光筒上壁相交于F ,以此 类推,可得到主遮光筒所有挡光环的位置。 图6外遮光筒挡光环设计图 Fig.6 Design sketch of outer cone vane 另外,采用几何成像关系得到主镜内遮光罩前 口径为94.14 mlTl,后口径为123.6 1TI1TI。次镜内遮 光罩前口径为96.76 mm,后口径为114.5 mm。 2.3带内杂散光分析 目前,软件分析杂散光可靠性高,不仅节约成 本,还能避免杂散光测试试验中各种繁琐问题。 与其他分析软件相比,FRED软件分析杂散光能建 构任何复杂结构分析,光线数无限制,并提供准确 分析结果,界面直观,尤其FRED可以展现透镜在 真实世界无法避免的现象——鬼影,并直接得到 能量图,更方便人们对成像质量进行研究分析 j。 设系统工作温度为223 K,镜筒壁挡光环及遮 光罩涂Aeroglazee Z一306,散射模型参数b。一0.1, L一0.01,S:~1.5(采用Harvey—Shark BSDF进 行分析)。根据实际情况,设黑色涂层吸收率为 98 ,漫反射率5 ,反射镜反射率99 ,吸收率 0.5 ,透镜透过率98 ,散射率1 ,像面设理想 吸收率100 9/5。在遮光罩入口处设置光源,功率为 1o w,入射角为具有代表性的1O。进行光线追 迹 ,到达探测器的杂散路径主要是:镜筒及遮光 罩的漫反射,镜片表面的散射以及镜片侧表面的 反射,如图7所示。通过精确调整内外遮光罩孔径 用光学20l8,39(2) 王伟丽.等:一种双波段成像系统的红外通道杂散光分析 ·265· 大小,与未加遮光罩前相比较强烈的杂散光源已 经被有效地抑制。图8所示为无挡光(左)和有挡 光环(右)情况下入射光照度图,可以看出:在有挡 3 红外通道带外激光干扰分析 【fj太阳光等发出的带内杂散光虽得到较好抑 制,但足【}J带外强激光束照射光学系统而产生的 光环的情况下.成像质量较好,能量集【}]度高。 时.由报告结果可得:鬼像的总功率大约是5.2× 10“W,鬼像影响叮忽略小计。 带内杂散光依然日 能对红外成像质量形成干扰. 因此对此部分杂敞光进行理论研究。具体过程: 带外强激光照射系统,反射镜 的金属膜层会吸 一番 收激光的部分能最.致使表面温度升高.继而发出 带内辐射,随同带内光到达探测器上,最终影响系 统成像质蛩。 3.1 理论分析 图7 杂散光路追迹图 Fig.7 Ray trace of stray light path 3() 2() l() 0 l q-) 一10 30 30—21)一l00 l02030 —30—20一l0()I()203() Y/I11m Y/l11iYi 图8有无挡光环杂散光照度图对比图 Fig.8 Comparison of illuminance distribution map of stray light with and without vane 2.4评价结果 通常用来 价光学系统消杂光能力的一项指标 为点源透射率PST(point sources transmittance). PST定义为离轴角为0的点源在像面上的辐照度‘ 入瞳处辐照J 之比。在仿真过程中,入射光线从0 方位角以不川离轴视场进行入射。方位角依次取l。 ¨lO。,采样点为1.闽值没为10 。逐渐增加光线条 数进行追迹。随至收敛 ,得到PST曲线,如图9昕 示。分析曲线口r知,在离轴角2O。以后。杂散光抑制 基本达到阈值,町以满足实际:l:作的需要。 图9 红外通道PST曲线图 Fig.【) Curve,if point source transmittance for IR channel 系统中,主、次镜均为反射镜,用Si() 作为 基底材料,表面镀银。当反射镜受激光照射后,表 面的盒属膜层会吸收入射激光能鼙,从而使温度 升高.这种现象叫光热效瘦 、。 在研究问题巾,将物体辐射简化为黑体辐射, 黑体辐射力与温度、波长的关系如下: Em一 ·士(w·IT1 1· m ) (3) e厅 其中 !分别为第一和第二辐射常数。由下图 l0町看出。反射镜温度越商.波长越短.每条曲线 都有搬大值.且随着温度升高。一定波长辐射力迅 速增大。 图1 0 一定温度下黑体单色辐射力与波长关系 Fig.1 0 Relationship between monochromatic radiation and wavelength of black body under a certain temperature 3.2模型建立与数值分析 反射镜设为刚伯辐射体,表面镀银时的辐射 率为0.02,熔点为l 235 K.激光F扰波K为2.6 n .总功率设为10 W,积分时I1_1J 1O0 nlq,,初始温 度设为223 K。通过有限元数值计算得 银层表 面温丌分 ,再利HJ【单色轺{射力 温度关系可得 辐射t{1心波长,如表l所示。 ·266· 应用光学2o18。39(2) 王伟丽,等:一种双波段成像系统的红外通道杂散光分析 表l 主要元件温升及中心波长数据 Table 1 Data of temperature-rising and central wavelength of main elements 对主、次镜用1.064 m带外激光作同样仿真 计算分析,如表3所示。 表3 1.064 ̄m辐射元件主要元件温升及中心波长数据 Table 3 Data of temperature-rising and central wavelength 探测元件功率密度/(w·cm )温升/K 中心波长/ m of main elements when 一1.064 n 将功率密度增大1O倍时,温升情况与相应的 辐出主波长如表2所示。 表2主要元件温升及中心波长数据 Table 2 Data of temperature-rising and central wavelength of main elements 比较可得,相同功率密度下,1.064 m带外激 光辐射元件产生的温升要比2.6 m产生的温升 小很多,且辐出主波长较大,被滤光片滤除。 视次镜为朗伯辐射体,银辐射率为2%,对黑 体辐射曲线在3 m~5 m范围积分,次镜表面积 为67.93 cm。,计算次镜表面辐射功率为76.56 可见,主、次镜温升随着光功率密度增加而增 大。一定辐射力下,辐出主波长随着温度升高而 减小。当功率密度增加1o倍时,次镜温度达到 703 K,辐射主波长为4.1 m,产生较强带内光,透 过滤波片到达探测器上。 mw,仿真传输光路与到达探测器照度图如图13 和14所示。 厚1 mm次镜温度场分布模型如图l1所示, 温升情况如图12所示。 图13次镜热辐射光路 Fig.1 3 Radiation layout of second reflector 镜f:/mnl V 278K 图11次镜温度场模型 Fig.1 1 Temperature field model of second reflector 8OO 70O 6O0 图14热辐射照度圈 Fig.1 4 Illuminance distribution map of thermal radiation 通过仿真计算到达探测器的功率为0.195 5OO mw,远大于探测器本身噪声功率几十nw¨】 ,则 带外杂散光随同带内光一同到达像面,故严重影 响成像质量。此研究可初步判别带外激光照射镜 片因光电效应引起的温升而导致带内杂光对探测 器有干扰。 越400 赠 30O 2OO l0() 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0 9 时问/×l0 Ills 图12次镜温升曲线 Fig.1 2 Temperature-rising curve of secondary mirror 4 结论 基于光学设计,本文对红外通道带内和带外 应用光学2018,39(2) 王伟丽,等:一种双波段成像系统的红外通道杂散光分析 ·267· 杂光进行了全面研究。设计了抑制带内杂光结 构,并利用FRED软件仿真与分析,可知到达像面 的鬼像总功率为5.2×10一W,点源透射比达到设 定阈值量级1o~,带内杂散光得到较好抑制。对 于带外杂散光方面,利用有限元法及数值计算过 程进行研究,选择1.064 Fm和2.6 Fm带外激光 对系统进行辐射,可知次镜温升明显,温度达到 703 K,并向外发出带内波长4.1 p.m,从工作波长 到达探测器上的辐射功率为0.195 mw,严重影响 成像质量。 参考文献: [1]SHEN Honghai,HUANG Meng,LI Jiaquan,et a1. 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