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低温多晶硅薄膜制备方法、薄膜晶体管及其制备方法[发明专利]

2021-03-02 来源:小侦探旅游网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:低温多晶硅薄膜制备方法、薄膜晶体管及其制备方

专利类型:发明专利发明人:田雪雁,龙春平申请号:CN201210479947.6申请日:20121122公开号:CN102945789A公开日:20130227

摘要:本发明公开了一种低温多晶硅薄膜的制备方法,提供一基板,将其置于基台上,在基板上形成缓冲层;在缓冲层上形成非晶硅层,对非晶硅层进行高温处理和激光退火,使非晶硅层形成为多晶硅层;在基板上形成缓冲层之前,在基板下表面或基台上表面形成有保温隔热层。本发明通过增加耐高温保温隔热层,来抑制从融熔硅层向基板、再向基台的快速散热过程。在激光退火过程中,通过增加耐高温保温隔热层,减小了基板的热导率,从而降低基板向基台的散热过程,达到降低融熔硅层与基板界面处的温度梯度,以减少融熔硅层向基板的热流,延长多晶硅的晶化时间,提高多晶硅薄膜的晶粒尺寸;本发明所采用的方法,在生产过程中容易操作,工艺过程简洁并且不耗费原料。

申请人:京东方科技集团股份有限公司

地址:100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

国籍:CN

代理机构:北京路浩知识产权代理有限公司

代理人:王莹

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